XFlash 6 - 100
用于低电流应用的最大面积SDD
XFlash 6-100探测器
非常特殊的情况需要非常特殊的探测器。的XFlash®6-100适用于信号有限的情况。这是在分析非常敏感的样品或使用Cold-FEG SEM时的情况。大100毫米2有效面积和狭窄的端盖提供了最大的立体角，即使在这些不利条件下，也能在短时间内获得光谱。同时还有XFlash®6-100具有与小型探测器相同的高计数率能力(高达1500 kcps的输入)，使其成为一个真正独特的EDS分析仪器。
总之，XFlash®6-100提供以下优势:
- 具有良好的能量分辨率(Mn Kα时为129 eV, C Kα时为57 eV, F Kα时为67 eV)
- 极高的脉冲负载能力
- 良好的轻元素和低能量性能(元素范围Be - Am)
- 没有精密的、能产生振动的冷却系统
- 上电后立即可用
- 低运营成本
- 不需维护的操作
- 小尺寸
- 低重量，包括纤细的技术手指
XFlash应用的建议区域®6 - 100:
- 扫描电镜，微探针，FIB-SEM的EDS系统(焊接波纹管可选)
- 低束流和敏感样品分析(冷场发射极sem)