XFlash 6 - 100
适用于低电流应用的最大区域SDD
XFlash 6-100探测器
非常特殊的情况需要非常特殊的检测器。的XFlash®6-100是在信号有限的情况下制造的。例如，当分析非常敏感的样品或使用Cold-FEG扫描电镜时。大型100mm2活性区域和窄端盖提供了最大的实心角度，允许在短时间内获得光谱，即使在这些不利的条件下。同时XFlash®6-100具有与较小的探测器相同的高计数率能力(在输入端可达1500 kcps)，使其成为真正独特的EDS分析仪器。
总之，XFlash®6-100提供以下优势:
- 良好的能量分辨率(Mn Kα为129 eV, C Kα为57 eV, F Kα为67 eV)
- 极高的脉冲负载能力
- 良好的轻元素和低能量性能(元素范围Be - Am)
- 没有精密的、产生振动的冷却系统
- 上电后立即可用
- 低运营成本
- 不需维护的操作
- 小尺寸
- 低重量，包括纤细的科技手指
XFlash的建议应用领域®6 - 100:
- 用于扫描电镜，微探针，FIB-SEM的EDS系统(可选择焊接波纹管)
- 低束流和敏感样品分析(带有冷场发射极的sem)