半导体解决方案

自动化的AFM计量学

自动化的AFM计量学

Bruker的自动化AFM为表面粗糙度测量,化学机械平面化(CMP)(CMP)必威东盟体育和蚀刻深度测量提供了经过验证的工业计量解决方案。

为什么选择原子力量分析

原子力量分析是最准确,无损的方法available for optimizing and monitoring challenging CMP and etch process steps. Direct measurements do not require test structures or models and can be peformed in the active area of the die for the best sensitivity to process variations.

支持

我们能帮你什么吗?

Bruker与我们的客户合作解决了现实世界中的应用程序问题。我们开发下一代技术,并帮助客户选择正确的系统和配件。在工具出售工具很久之后,这种合作伙伴关系继续通过培训和扩展服务。betway手机客户端下载

我们训练有素的支持工程师,应用程序科学家和主题专家团队全力致力于通过系统服务和升级以及应用程序支持和培训来最大化您的生产率。betway手机客户端下载

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