半导体的研发

声子是固体样品中的量子化晶格振动，通常可以在远红外或中红外光谱范围内测量，例如通过反射或透射光谱。声子能量、能带形状等可以揭示样品结构和质量的有用信息。Bruker研究的傅立叶红外光谱仪可以覆盖非常宽的光谱范围，尤其是真空光谱仪是远红外声子光谱的理想选择。专用样品室配件，包括低温恒温器，提供各种实验选择。

光致发光光谱是半导体研发的重要工具。激光激发引起的样品发射使我们对带结构和载流子细节有了更深的了解。基于其FT-IR研发光谱仪，Bruker提供专用PL模块，具有各种选项，包括低温恒温器适应。对于最苛刻的中红外PL的情况下，适用于VERTEX 80v真空光谱仪的专用真空PL模块以其独特的步进扫描性能是最强大的解决方案。

除了光致发光光谱外，还可以通过透射光谱研究半导体的带隙、激子等电子特性。由于Bruker FT-IR研发光谱仪的独特通用性，这在非常广泛的光谱范围内都是可能的，从远红外甚至到VIS/UV范围。对于最高灵敏度，真空光谱仪完全真空光学台，允许去极限。专用的附件允许实现各种实验设置。

半导体异质结构是纳米结构和周期性半导体结构，如量子阱、超晶格、量子点等。除了光发光光谱外，利用Bruker FT-IR光谱仪进行反射或透射光谱也是很有价值的工具。