半导体的研发

声子是固态样品中量子化的晶格振动，通常可以在远或中红外光谱范围内测量，例如通过反射光谱或透射光谱。声子能量、能带形状等可以揭示样品结构和质量的重要信息。Bruker研究的FT-IR光谱仪可以覆盖非常宽的光谱范围，特别是真空光谱仪是远红外声子光谱的理想选择。专用样品室配件，包括低温恒温器，提供各种实验选项。

光致发光(PL)光谱是半导体研发的重要工具。由激光激发引起的样品发射使我们对能带结构和载流子细节有了更深入的了解。基于其FT-IR研发光谱仪，Bruker提供专用PL模块，包括各种选项，如低温恒温器适配。对于要求最高的中红外光致发光，适用于VERTEX 80v真空光谱仪的专用真空光致发光模块具有独特的步进扫描性能，是最强大的解决方案。

除光致发光光谱外，还可以通过透射光谱研究半导体的带隙、激子和其他电子特性。由于Bruker FT-IR研发光谱仪的独特的多功能性，这是可能在非常广泛的光谱范围内，从远红外，甚至到VIS/UV范围。对于最高的灵敏度，真空光谱仪与完全真空光学工作台，允许去极限。专用配件，可实现各种实验设置。

半导体异质结构是纳米结构，通常是周期性的半导体结构，如量子阱、超晶格、量子点等。除了光致发光光谱，布鲁克FT-IR研发光谱仪的反射或透射光谱也可以是有价值的工具。