半导体研发

对于半导体研究和开发,除其他技术外,FT-IR和相关光谱学是研究半导体基本原理的简单有效工具。

声子光谱法

关于声子谱学

声子是固态样品中的量子化晶格振动,通常可以在远红外或中红外光谱范围内测量,例如通过反射光谱或透射光谱。声子能量、能带形状等可以揭示样品结构和质量的重要信息。Bruker research FT-IR光谱仪可以覆盖极宽的光谱范围,尤其是真空光谱仪是远红外声子光谱仪的理想选择。专用样品室附件,包括低温恒温器自适应,提供各种实验选项。

红外光致发光

红外光致发光光谱

光致发光(PL)光谱是半导体研发的重要工具。激光激发引起的样品发射可以深入了解带结构和载流子细节等。基于其FT-IR研发光谱仪,Bruker提供具有各种选项的专用PL模块,包括低温恒温器自适应。对于要求最苛刻的中红外光致发光,一个专用的真空光致发光模块适合VERTEX 80v真空光谱仪,其独特的阶跃扫描性能是最强大的解决方案。

激子和带隙研究

关于激子和带隙研究

除了光致发光光谱外,还可以通过透射光谱对半导体的带隙、激子和其他电子特性进行研究。由于Bruker FT-IR研发光谱仪具有独特的多功能性,因此可以在从远红外到可见光/紫外的非常宽的光谱范围内实现这一点。对于最高灵敏度,真空光谱仪配备完全真空的光学工作台,允许达到极限。专用附件允许实现各种实验设置。

半导体异质结构

半导体异质结构

半导体异质结构是纳米结构,通常是周期性的半导体结构,如量子阱、超晶格、量子点等。除了光致发光光谱,Bruker FT-IR研发光谱仪的反射或透射光谱也可以是有价值的工具。