eFlash XS

显著增加能够获得a集成EDS和EBSD系统Bruker Nano Analytics公司开发了eFlash XS，这是一种独特的EBSD检测器，专门用于SEM市场的可负担部分。eFlash XS EBSD探测器被特意设计为安装在低占地面积的sme上，比如桌面sme和带有小室的标准sme。

我们的EBSD我们利用专业知识开发最可靠和最实惠的EBSD检测器，同时提供卓越的性能。eFlash XS的设计旨在实现最大的可靠性、易用性和图案质量，它由一个可分箱的CMOS摄像头、一个创新的光学系统来实现最大的光传输和高性能的用户可更换荧光屏提供动力。它的USB3.0计算机连接(电源和数据)使eFlash XS成为真正的即插即用设备。当不使用时，EBSD检测器的in-SEM部分会滑出用于外部存储，以消除SEM级与检测器碰撞的任何风险。

新的eFlash XS EBSD检测器集成了第六代XFlash^®EDS探测器精灵2软件来创建QUANTAX ED-XS，为入门级SEM市场提供了强大的分析技术组合。

主要优点(硬件和软件)

易用性

• 不需要校准- WD变化对模式中心的影响会自动校正
• 装箱/模式分辨率不需要改变;如果需要，所有的装箱模式都是可用的
• 自动相机获得
• 自动晶体相位设置-不需要用户干预
• 无意外EBSD检测器插入阶段的风险
• 用户可自行置换的荧光屏
• 包括EDS HyperMap和EBSD map的独立和同时采集
• 自动数据保存
• 用户可以选择在地图采集结束时自动关闭EHT

新用户可以在较少的时间限制下接受EDS和EBSD培训和实践

在昂贵的FE-SEM上进行EBSD测试之前，可以检查样品制备质量

对负担得起的sem进行常规EBSD分析，以减少FE-SEM积压

重要的规格

• 原生图像分辨率:720 x 540像素
  
• 支持的装箱方式:2x2、3x3、4x4、5x5、6x6
• 速度:525帧/秒(fps)在所有装箱模式
• 用户可拆卸的探测器头滑动进出机构
• 用户可自行置换的荧光屏
• EBSD数据和电源传输通过USB3.0电缆(不需要额外的电缆或盒)
• 外形尺寸:长~ 84mm，直径~ 48mm