eFlash XS

显著增加能够获得综合EDS和EBSD系统，Bruker Nano Analytics开发了eFlash XS，这是一种独特的EBSD探测器，专门用于SEM市场中价格合理的部分。eFlash XS EBSD探测器专门设计用于安装在低占地面积的SEM上，如桌面SEM和带小腔室的标准SEM。

我们的EBSD专家们已经开发出最可靠、最经济的EBSD探测器，同时提供优异的性能。eFlash XS的设计旨在实现最大的可靠性、易用性和图案质量，它由一个具有装箱功能的CMOS摄像头、一个可实现最大光传输的创新光学系统和一个高性能的用户可更换荧光屏供电。它的USB3.0计算机连接（电源和数据）使eFlash XS成为真正的即插即用仪器。不使用时，EBSD探测器的扫描电镜内部分会滑出进行外部存储，以消除扫描电镜级与探测器碰撞的任何风险。

新的eFlash XS EBSD探测器与第6代XFlash集成^®电子显微镜下的EDS探测器ESPRIT 2创建QUANTAX ED-XS，是入门级SEM市场分析技术的强大组合。

主要优点（硬件和软件）

易用性

• 无需校准–自动纠正对图案中心的WD变化影响
• 不需要改变装箱/模式分辨率；如果需要，所有装箱模式都可用
• 自动相机增益
• 自动晶相设置-无需用户干预
• 无意外将EBSD探测器插入阶段的风险
• 用户可更换荧光屏
• 包括EDS HyperMap和EBSD map的独立和同时采集
• 自动数据保存
• 地图采集结束时自动EHT关闭是用户可选择的

新用户可以在较少的时间限制下接受培训并练习EDS和EBSD

样品制备质量可以在昂贵的FE-SEM上进行EBSD会话之前进行检查

在价格合理的SEM上运行常规EBSD分析，以减少FE-SEM积压

重要规格

• 本机图像分辨率：720 x 540像素
  
• 支持的装箱模式：2x2、3x3、4x4、5x5、6x6
• 速度：在所有装箱模式下每秒525帧（fps）
• 用户可拆卸探测头–滑入和滑出机构
• 用户可更换荧光屏
• 通过USB3.0电缆传输EBSD数据和电源（无需额外电缆或接线盒）
• 外形尺寸：长度约84毫米，直径约48毫米