eFlash XS

为了显著增加能够获得EDS和EBSD集成系统的实验室数量，布鲁克纳米分析公司开发了eFlash XS这是一种独特的EBSD探测器，专注于提供市场上最经济实惠的EBSD解决方案。eFlash XS EBSD探测器专为安装在台式电镜而设计，或者具有小仓室的标准 扫描电镜

我们的EBSD专业人员利用已有系统，专业知识开发出有史以来最可靠、最经济实惠的 EBSD探测器，同时它提供卓越的性能。eFlash XS专为实现最大可靠性、易用性和花样质量而设计，由支持像素并和的 CMOS摄像机、用于最大透光的创新型光学系统和高性能荧光屏提供动力。它依靠 USB 3.0与计算机连接（电源和数据同步连接）使 eFlash XS成为真正的即插即用的仪器。在不使用时，EBSD探测器在 扫描电镜中的部分可以滑出，进行外部存储，以消除 扫描电镜样品台与探测器碰撞的任何风险。

新的eFlash XS EBSD探测器与ESPRIT 2软件下的第六代XFlash^®EDS探测器高度集成，我们称之为 QUANDAX ED-XS这是入门级扫描电镜市场分析技术的强大组合。

主要优势（硬件和软件）

易用性

• 无需校准 – 自动纠正 WD变化对花样中心的影响
• 不需要进行像素并和/花样分辨率的更改;如果需要，所有像素并和模式都可用
• 自动摄像机增益
• 自动晶体相位设置 - 无需用户干预
• EBSD探测器插入阶段完全无风险
• 用户可更换的荧光屏
• 包括独立和同时获取 EDS超映射和 EBSD图
• 自动数据保存
• 用户可选的 EBSD采集结束时的是否自动关闭 EHT

新用户可以接受培训，并练习 EDS和 EBSD同时减少时间限制

样品制备的质量可以在昂贵的 FE-SEM上进行 EBSD之前，在台式电镜上进行检查

在经济实惠的 扫描电镜进行常规 EBSD分析，以减少 FE-SEM任务积压

重要规格

• 原始图像分辨率：720x540像素
  
• 支持的像素并和模式：2x2、3x3、4x4、5x5、6x6
• 速度：所有像素并和模式下的 525帧/秒 （fps）
• 用户可移动探测器头 - 滑入和滑出机制
• 用户可更换的荧光屏
• EBSD数据和电源通过 USB3.0电缆进行传输（无需额外的电缆或电箱）
• 外径：长度 ~ 84毫米，直径 ~ 48毫米