EBSD样品的超快前铸电子（FSE）和反向散射电子（BSE）成像
只有Argus系统的最佳图像质量
Argus成像系统结合了一个巧妙的想法[A.P. Day Et全部]具有超高质量的硅二极管和布鲁克（Bruker）的无与伦比的信号处理技术，可提供无与伦比的质量和细节的FSE和BSE图像。这是使Argus成为当今最佳解决方案的主要功能：
- FSE-辉煌的假色导向对比成像
- BSE-高质量的“平均Z数”，也称为“相位对比”成像
- 以高达125,000像素/秒的速度成像
- ESPRIT软件中的快速自动信号优化
- 信号放大电子设备已完全集成在EBSD检测器中，即没有外部盒子
- 用户可更换二极管
Argus成像系统
在涡轮刀片上的热屏障涂层的横截面BSE图像中的相位对比度
添加性制造（AM）不锈钢的方向对比度
上面描述的Argus规格与各种ESPRIT软件功能相结合，为各种应用程序提供强大的好处。这里只是几个例子：
- 时间在原位实验中解析了样品的可视化，例如原位拉伸和压缩测试 -ESPRIT TRM功能
- EBSD映射期间的准确漂移校正 - ESPRIT漂移校正功能
- 替代非常快的EBSD映射 -快速EBSD功能
- 可视化非常低的方向变化和晶体中的磁域
申请示例
有关Argus成像系统和应用程序示例提供的好处的更多详细信息，请在下面查看我们的图像库或我们的相关视频Bruker Nano Analytics YouTube频道。
图1：在涡轮刀片上的热屏障涂层的Argus BSE图像，显示了具有不同元素组成的多个相，即不同的平均z数。
图2：Argus FSE的图像，其添加性生产（AD）奥氏体不锈钢样品揭示了非常异构的微观结构和由于该制造过程的重复性而产生的模式。颜色变化与晶体方向的变化有关。
图3：变形Cu的Argus FSE图像。
图4：双链钢样品的Argus FSE图像在650°C下退火8小时。原始的带状结构仍然可见，大的奥氏体晶体带被铁氧体，sigma和chi相分开。
图5：用息肌picointender pi 89缩进后的合金样品的Argus FSE图像。晶体学起源的特征，表明在3、9和12点的Indents附近可见多个滑动系统的激活。
图6：ARGUS FSE在原位压缩测试（左）和随后的拉伸测试（右）之后的ARGUS FSE图像。在压缩测试期间发生的广泛的基础孪生可以在左上角看到。在拉伸测试过程中，大多数双胞胎从样品的那个区域消失。
图7：12 mpixel，多晶样品的低放大倍数Argus fse图像；左侧的图像是原始的，右侧图像是在扫描末端在ESPRIT 2软件应用的自动背景减法之后。图像在〜3分钟内获取。
图8：沉积在图案蓝宝石底物上的Algan单晶层的Argus FSE图像。强的表面地形是观察到的颜色变化的原因。
图9：与图8中同一区域的Argus FSE图像，但随着Argus二极管的位置，它们以更高的起飞角捕获了预截止的电子。这种样品检测器几何形状降低了地形对比的强度，从而使微观结构特征的可视化可能。在这种情况下，我们可以观察到层中存在残留应变产生的蜂窝结构，该结构源自与蜂窝图案化的蓝宝石底物的界面。
图10：烧结的马氏体钢的Argus FSE图像显示了大型马氏体区域，中间有较小的铁氧体晶粒。