超超速前置电子（FSE）和EBSD样品的反向散射电子（BSE）成像
只有Argus系统的最佳图像质量
Argus成像系统结合了一个巧妙的想法[A.P. Day Et all]超高品质的硅二极管和Bruker的无与伦比的信号处理技术，提供了具有无与伦比的质量和细节的FSE和BSE图像。以下是argus最佳解决方案的主要功能：
- FSE - 辉煌的假色调对比度成像
- BSE - 高质量的“平均Z号”，也称为“相位对比”成像
- 以高达125,000像素/秒的速度成像
- ESPRIT软件中快速和全自动信号优化
- 信号放大电子器件完全集成在EBSD检测器中，即没有外部盒子
- 用户可更换二极管
Argus成像系统
在涡轮叶片上的热阻挡涂层的横截面BSE图像中的相位对比
在橡皮制造（AM）不锈钢中的定向对比
上面描述的Argus规范与各种ESPRIT软件功能相结合，以为各种类型的应用提供强大的益处。这只是一些例子：
- 在原位实验期间，时间解决样本的可视化，例如，原位拉伸和压缩测试 -ESPRIT TRM功能
- EBSD映射期间的精确漂移校正 - ESPRIT漂移校正功能
- 非常快速的EBSD映射的替代方案 -快速EBSD功能
- 可视化晶体中非常低的定向变化和磁畴
应用例子
有关Argus Imaging System和Application Simear提供的优势的更多详细信息，请查看下面的图像库或我们的图像库Bruker Nano Analytics YouTube频道。
图。图1：在涡轮叶片上的热障涂层的Argus BSE图像，显示具有不同元素组成的多相，即不同的平均Z数。
图2：ARGUS FSE图像的含有增生性（AD）奥氏体不锈钢样品的图像，其露出非常异质的微观结构和由该制造方法的重复性的图案。颜色变化涉及晶体取向的变化。
图3：变形Cu的Argus FSE图像。
图4：双工钢样品的Argus FSE图像在650℃下退火8小时。原始带状结构仍然可见，用由铁素体，Sigma和Chi阶段分开的大型奥氏体晶粒带。
图5：用Hysitron Picointer PI 89压痕后的共合金样品的Argus FSE图像。结晶起源的特征表明在3,9和12点钟的凹痕附近可见。
图6：原位压缩测试（左）和随后的拉伸测试（右）后AZ31样品的ARGus FSE图像。在压缩测试期间发生的广泛的基础孪晶可以在左上角看到。在拉伸试验过程中，大多数双胞胎从样品的区域消失。
图。7：12 MPIXEL，低放大率ARGUS FSE图像的多晶样品;左侧的图像是原始的，右侧图像是在扫描结束时由ESPRIT 2软件应用的自动背景减法后。图像在〜3分钟内获得。
图。图8：沉积在图案化的蓝宝石衬底上的AlGaN单晶层的Argus FSE图像。强表面形貌负责观察到的颜色变化。
图9：如图9中的相同区域的Argus FSE图像。但是，使用Argus二极管定位，使得它们具有更高的起飞角度的侵蚀电子。这种样品检测器几何形状降低了地形对比度的强度，从而可以使微观结构特征的可视化。在这种情况下，我们可以观察到通过层中存在残余应变产生的蜂窝结构，该结构源自与蜂窝图案化的蓝宝石衬底的界面。
图10：烧结马氏体钢的Argus FSE图像，显示出具有较小铁氧体颗粒的大马氏体区域。