EBSD样品的超快前向散射电子（FSE）和后向散射电子（BSE）成像
只有使用ARGUS系统才能获得最佳图像质量
阿格斯成像系统结合了一个巧妙的想法[A.P.一天等等]采用超高质量硅二极管和Bruker无与伦比的信号处理技术，以无与伦比的质量和细节提供FSE和BSE图像。以下是使ARGUS成为当今最佳解决方案的主要功能：
- FSE-明亮假彩色方向对比成像
- BSE-高质量“平均z数”，也称为“相位对比度”成像
- 以高达125000像素/秒的速度成像
- ESPRIT软件中的快速全自动信号优化
- 信号放大电子设备完全集成在EBSD探测器中，即没有外部接线盒
- 用户可更换二极管
阿格斯成像系统
涡轮叶片热障涂层横截面BSE图像中的相位对比度
附加制造（AM）不锈钢的取向对比
上述ARGUS规范与各种ESPRIT软件功能相结合，为各种类型的应用程序提供强大的优势。以下只是几个例子：
- 现场试验期间样品的时间分辨可视化，例如现场拉伸和压缩试验-ESPRIT TRM功能
- EBSD映射期间的精确漂移校正–ESPRIT漂移校正功能
- 非常快速EBSD映射的替代方案-快速EBSD功能
- 晶体中极低取向变化和磁畴的可视化
应用实例
有关ARGUS imaging system提供的好处和应用示例的更多详细信息，请查看下面的图像库或我们网站上的相关视频布鲁克纳米分析YouTube频道.
图1：涡轮叶片上热障涂层的ARGUS BSE图像，显示了具有不同元素组成的多个相，即不同的平均z数。
图2：额外制造（AD）奥氏体不锈钢样品的ARGUS FSE图像，显示了非常不均匀的微观结构和由于该制造过程的重复性而产生的图案。颜色变化与晶体取向的变化有关。
图3：变形铜的ARGUS FSE图像。
图4：在650°C下退火8小时的双相钢样品的ARGUS FSE图像。原始带状结构仍然可见，由铁素体、Sigma和Chi相簇分开的大奥氏体晶粒带。
图5:Hysitron PicoIntender PI 89压痕后钴合金样品的ARGUS FSE图像。3、9和12点钟时，在压痕附近可以看到表明多个滑移系统激活的晶体起源特征。
图6:AZ31样品在原位压缩试验（左）和随后的拉伸试验（右）后的ARGUS FSE图像。在压缩试验期间发生的广泛基础孪晶可以在左上角看到。拉伸试验过程中，大多数孪晶从样品的该区域消失。
图7:12 Mpixel，多晶样品的低倍ARGUS FSE图像；左边的图像是原始图像，右边的图像是扫描结束时ESPRIT 2软件应用的自动背景减法。图像在约3分钟内获得。
图8：沉积在图案化蓝宝石衬底上的AlGaN单晶层的ARGUS FSE图像。强烈的表面形貌是观察到的颜色变化的原因。
图9：与图8相同区域的ARGUS FSE图像，但ARGUS二极管的位置使其能够捕获具有更高起飞角的前散射电子。这种样品探测器几何结构降低了地形对比度的强度，从而使微观结构特征的可视化成为可能。在这种情况下，我们可以观察到蜂窝由于层中存在残余应变而产生的结构，该残余应变源于与蜂窝状蓝宝石衬底的界面。
图10：烧结马氏体钢的ARGUS FSE图像，显示了较大的马氏体区域，中间有较小的铁素体晶粒。