缺陷和污染

CdTe监控

x射线衍射成像(XRDI，也称为x射线地形图)是用来成像晶体缺陷在其他完美(或接近完美)的基片。使用QC-RT上的虚拟狭缝，可以在模式下对样品进行成像，以显示划痕、位错和其他缺陷，还可以在基片内进行图像定向对比。

使用QC-RT上的虚拟狭缝，可以在模式下对样品进行成像，以显示划痕、位错和其他缺陷，还可以在基片内进行图像定向对比。

从相同的数据创建的图像

这些图像是由相同的数据创建的，并允许使用不同的处理方法对不同的长程和短程特征进行成像。