缺陷和污染

CdTe监测

X射线衍射成像（XRDI，也称为X射线地形图）用于对其他完美（或接近完美）晶体缺陷进行成像基板。使用QC-RT上的虚拟狭缝，可以对样品进行成像，以显示划痕、错位和其他缺陷，还可以对基板内的方向对比度进行成像。

使用QC-RT上的虚拟狭缝，可以对样品进行成像，以显示划痕、位错和其他缺陷，还可以对基板内的方向对比度进行成像。

从相同数据创建的图像

这些图像是从相同的数据创建的，并允许通过不同的处理对不同的长程和短程特征进行成像。