D8提前
하이라이트
D8推进:XRD、PDF및一枝를위한단일솔루션
D8推进- X선회절의미래보장솔루션
D8推进는고유한D8회절제품군을기반으로하며다음과같은모든X선분말회절및산란응용분야에완벽하게설계되었습니다。
- X선전통적인분말회절(XRD)
- 쌍분배함수(PDF)분석
- 소각X선산란(粉煤灰、蜡)
뛰어난적응성으로인해D8推进는액체에서루스파우더,박막에서고체블록에이르기까지단일계측기의모든샘플유형을측정할수있습니다。
초보자든전문가든구성변경은빠르고쉬우며완벽합니다。이모든것은力量의고유한达芬奇。设计으로가능합니다。자동실시간구성요소인식및검증을통해도구및얼라인먼트가필요없는기기구성변경이가능합니다。
力量만이NIST표준참조자료SRM1976을기반으로얼라인먼트보증을제공합니다。피크위치,강도및분해능측면에서D8推进의정확도를능가하는다른분말회절분석기는어디에도없습니다。
마켓갤러리
에너지저장/배터리
특징
주요기능
双/双옵틱
특허받은双/双광학빔경로설계는D8推进의사용을크게단순화하여다양한응용분야와시료유형을제공합니다。사용자편의성을염두해두고이시스템은4개의서로다른빔형상사이의자동전동스위칭을특징으로합니다。수동사용자개입없이,시스템은분말에대한Bragg-Brentano을맞추고잘못된모양의샘플,코팅및박막과그사이의모든것을위한병렬빔지오메트리를전환할수있습니다。상온또는비상온조건에서분말,벌크,섬유,시트및박막(무정형,다형성및상압)을포함한모든샘플유형에완벽하게적합합니다。
동적빔최적화™(DBO)
力量의고유한DBO기능은X선회절에대한데이터품질측면에서중요한새로운벤치마크를설정합니다。전동발산슬릿,전동산란방지화면및가변시야액티브검출기창의자동동기화는특히낮은각도에서2Ɵ비교할수없는데이터품질을제공합니다。DBO는LYNXEYE검출기제품군의모든구성원인SSD160-2, LYNXEYE-2,및LYNXEYE XE-T에서지원됩니다。
LYNXEYE XE-T
LYNXEYE XE-T는LYNXEYE검출기제품군의주력제품입니다。LYNXEYE XE-T는시장에서0 d, 1 d및2 d데이터수집을위한유일한에너지분산형검출기입니다。모든파장(Cr에서Ag)까지)에적합하고가장높은계수속도와최상의각도분해능을제공하는이검출기는모든X선회절및산란응용분야에이상적입니다。
380 eV보다우수한LYNXEYE XE-T의뛰어난에너지분해능은형광필터링측면에서시장에서가장성능이좋은검출기시스템입니다。LYNXEYE XE-T검출기를사용하면铜방사선에의해여기된Fe fluorecense가강도손실없이100%필터링되며잔여Kß및흡수에지와같은데이터에서아티팩트를유발하는금속필터가필요하지않습니다。또한더이상intensity-killing보조모노크로메이터가필요하지않습니다。
LYNXEYE XE-T는力量의차별화된검출기얼라인먼트가적용됩니다。배송시채널결함이없습니다。보장합니다!
기능갤러리
达芬奇家具。设计
LYNXEYE XE-T
三와双胞胎옵틱
EIGER2 R검출기
계측기및데이터품질
응용
회절분석기-모든응용프로그램
분말회절
X선분말회절(XRPD)기술은재료특성화를위한가장중요한도구중하나입니다。분말패턴에내장된대부분의정보는존재하는단계의원자적배열로부터직접파생된다。D8推进및DIFFRAC。套件소프트웨어를사용하면일반적인XRPD방법을간단하게실행할수있습니다。
- 결정및비정질상식별및시편순도의결정
- 다상혼합물의결정및비정질상모두의정량적분석
- 미세구조분석(결정성크기,미세변형,장애…)
- 제조된부품의열처리또는가공으로인한대량잔류응력
- 텍스처(기본방향)분석
- 인덱싱,从头开始결정및결정구조정제
对分布函数분석
对分布函数(PDF)분석은브래그를(布拉格)기반으로하는무질서한재료의구조적정보와확산산란(“总散射”)을제공하는분석기술입니다。브래그피크는재료의평균결정구조(즉,장거리질서)에대한정보를제공하지만漫散射을통해로컬구조(예:단거리질서)의특성화를허용합니다。
D8推进生态및TOPAS소프트웨어는분석속도,데이터품질및비정질,낮은결정성,나노결정성또는나노구조재료의분석을위한결과측면에서이분야에서가장우수한PDF분석솔루션을나타냅니다。
- 상식별
- 구조결정및개선
- 나노입자크기및모양
박막및코팅
박막과코팅의분석은XRPD의동일한원리를기반으로하지만,추가빔조건및각도제어를사용합니다。일반적인예로는상식별,결정품질,잔류응력,텍스처분석,두께측정및조성대스트레인해석에국한되지않습니다。박막과코팅의분석은비정질및다결정코팅에서부터상체재배필름에이르기까지nm에서μm두께에이르는박막재료의특성에초점을맞추고있습니다。D8推进生态와DIFFRAC。套件소프트웨어는다음을포함하여박막의고품질분석을가능하게합니다。
- 스침각회절
- X선반사경
- 고분해능X선회절
- 역격자공간매핑
응용프로그램갤러리
상식별
Non-Ambient XRD
소각X선산란(粉煤灰)
사양
D8推进사양
기능 |
사양 |
혜택 |
三와双胞胎옵틱 |
소프트웨어푸시버튼스위치사이: 전동발산슬릿(브래그——브렌타노) 고강도Ka1 2병렬빔 고해상도Ka1병렬빔 특허:US10429326 US665372 US7983389 |
수동사용자개입없이최대6개의서로다른빔형상간에완전자동전동전환 분말,벌크재료,섬유,시트및박막(무정형,다형성및상종)을포함한모든샘플유형에완벽하게적합합니다。 |
동적빔최적화 |
동적동기화: 전동발산슬릿 전동산란방지화면 가변액티브검출기창 2Ɵ각도범위:< 1 > 150 |
공기계,측기및샘플지원산란이거의없는데이터 사소한결정및비정질상에대한정량화를가능하게하는검출의하한을크게향상시켰습니다。 낮은2θ각도에서비교할수없는성능은점토,제약,제올라이트,다공성프레임워크재료등을정확하게조사할수있습니다。 |
LYNXEYE XE-T |
에너지분해능:< 380 eV @ 8凯文 감지모드:0 d, 1 d, 2 d 파장:Cr,有限公司铜、钼、银 특허:EP1647840 EP1510811 US20200033275 |
Kß필터및보조모노크로메이터필요없음 铜방사선으로야기되는Fe -형광향의여100%과 기존검출기시스템보다최대450배빠릅니다。 BRAGG2D:서로다른기본선빔으로2 d데이터수집 차별화된검출기보증:데이터산출에결함이있는채널없음 |
EIGER2 R |
Dectris有限公司가개발한하이브리드광자카운팅기술을기반으로한최신세대멀티모드(0 d / 1 d和2 d)검출기。 |
0 d, 1 d및2 d감지,스텝스캔,연속및향상된스캐닝모드의원활한통합 인체공학적,얼라인이없는검출기회전을최적화하기위한γ또는2Θ각커버리지 완전한검출기시야를사용하는별도의도구가필요없는파노라마회절빔옵틱각도커버리지와해상도의균형을맞추기위해지속적으로가변검출기위치지정 |
转折。管 |
선과점포커스응용프로그램간의간편하고빠르며정렬없는스위치 |
전기케이블이나물호스의분리또는튜브의장착해제 达芬奇家具。设计: 초점 방향의 완전 자동 감지 및 구성 |
샘플체인저 |
FLIPSTICK: 9가지샘플 오토체인저:90개의샘플 |
반사및전송형상에서의작동 |
D8고니오미터 |
독립스테퍼모터와광학인코더가있는2원고니오미터 |
브루커의차별화된얼라인먼트보증으로탁월한정확성과정밀도 장수명윤활유를사용하여자유구동메커니즘/기어를절대적으로유지 |
Non-Ambient |
온도:~ 85 k에서~ 2500 k까지 압력:10 -⁴mbar,최대10条 습도:5% ~ 95% RH |
상온및비-상온조건에따른조사 DIFFRAC。达芬奇와 쉽게 스테이지를 교환할 수 있습니다. |
부속품
XRD组件
布鲁克XRD解决方案由高性能组件配置，以满足分析要求。模块化设计是配置最佳仪器的关键。
所有类别的组件都是布鲁克关键能力的一部分，由布鲁克AXS开发和制造，或与第三方供应商密切合作。
Bruker XRD组件可用于升级已安装的x射线系统，以提高其性能。
소프트웨어
DIFFRAC。套件을사용한PLAN.MEASURE.ANALYZE
DIFFRAC。套件™는손쉬운X선분말회절데이터수집및평가를위한광범위한소프트웨어모듈을제공합니다。微软。net의기술을기반으로하는DIFFRAC。套件는최신소프트웨어기술의모든장점을제공하여안정성,최대사용용이성및네트워킹을제공합니다。
완전히사용자정의가능한사용자인터페이스는플러그인프레임워크가특징이며공통된모양,느낌및작동을제공합니다。모든측정및평가소프트웨어모듈은개별애플리케이션으로작동하거나DIFFRAC。套件의플러그인프레임워크에함께통합될수있습니다。무제한네트워킹을통해고객네트워크내에서원하는수의D2移相器、D8进步,D8发现및D8努力분석기기에접근하고제어할수있습니다。
측정소프트웨어:
向导——분석법계획
指挥官——분석법실행및직접측정
工具-서비스인터페이스
분말회절소프트웨어:
DQUANT -정량적상분석
伊娃-상식별및정량적상분석
TOPAS——프로필분석,정량분석,구조분석
재료연구소프트웨어:
粉煤灰-소각X선산란소프트웨어
XRR——포괄적인X선반사계분석
纹理——모든텍스쳐분석의손쉬운사용
LEPTOS——박막분석/잔류응력검사
