D8推进
ハイライト
D8推进:XRD、PDF、一枝のためのソリューション
D8进步——将来性のあるXRDソリューション
D8推进は，d8回折计シリーズのプラットフォームにており，完全に含むすべてのx线路
- 従来のx线路回折（XRD）
- 繁体分布相关数（PDF）解析
- 小角X線散乱・広角X線回折(粉煤灰、蜡)
その優れた適応性により,D8は,液体から粉末,薄膜からバルク試料まで,あらゆる種類のサンプルを1台の装置で測定することができます。
初心者ででも熟练者でも，设定変更は素早く，简介に，そして确実に行うことができ。これは，ブルカー独自のdavinci.designによって可能なりなりまし：や调整作业なしで装置构成の変更が可能です。
さらに,NIST標準試料SRM1976に基づくアライメント保証を提供しているのはブルカーだけです。ピーク位置,強度,分解能の点でD8推进を超える測定精度を持つ粉末回折計は,市場には他にありません。
マーケットギャラリー
金属材料・機械部品
薄膜分析
建筑材料
製薬
エネルギー贮蔵·バッテリー
特長
主な機能
双/双光学系
特价取得済みの双/双光学系系ビーム设计は，d8推进の使使使を素素なアプリケーションや试料への能のアプリケーションにしを考虑てて便便便しを考虑し，システムは2×2の异なる光学系系自动で切り替えますユーザーユーザーが手ですることこと，粉末粉末用の布伦塔诺集中法光学系と，不合因试料，被膜，薄膜试料などにソフトウェア，薄膜などなどソフトウェア粉末，バルク，ファイバー，シート，薄膜（アモルファス，多结晶，エピタキシャル）など，あらゆる种类のサンプル最适な测定がな测定ががが可以。
动态梁优化™（DBO）
ブルカー独自のDBO機能は,X線回折のデータ品質の面で重要な新しい基準を打ち立てました。電動発散スリット、電動アンチスキャッタースクリーン、検出器の可変ウィンドウの自動同期化により、特に低角度でのデータ品質は他に類を見ないものとなっています。DBOは、LYNXEYE検出器シリーズ(SSD160-2、LYNXEYE-2 LYNXEYE XE-T)の全製品でサポートされています。
LYNXEYE XE-T
Lynxeye XE-Tは，Lynxeyeシリーズのフラッグシップです.lynxeye xe-tは，0d，1d，2dの各モードでデータをを唯波ので型をです唯全长（crからagまで）ににし，最高の数率と高の角度分类备备をた検出，あらゆるx线路·あらゆるあらゆる最适最适。
Lynxeye XE-Tのエネルギーエネルギーエネルギーは380EVを超え，蛍光フィルタリング面面は场最高のを発挥ます.lynxeye xe-t検出で，cu k线で励起ははた鉄系からからのの蛍さをた鉄系サンプルからの蛍蛍を，回折强度の损失に100％除去可です。さらにkβフィルターが不成な，残存kßピークピークや吸收端端のアーティファクトも排除できできのまたアーティを低ささせるせる侧侧モノクロメーターモノクロメーターもももも不再ににましまし。
lynxeye xe-tは，ブルカー社独自の検出保证が付いています。
機能ギャラリー
达芬奇家具。设计
动态梁优化™
LYNXEYE XE-T
三/双光学系
艾格尔峰2 R検出器
コンプライアントラボ向けソリューション
装置とデータの品質
アプリケーション
1つの回折計ですべてのアプリケーションに対応
粉末回折
X线粉末（XRPD）技术は，材料の特殊をを评価ための最も重要なツールツールのつつです回折パターンに含ま含まれる情情くはははははははいいい情しく相相の原情反映く相ののD8推进とdiffrac.suiteソフトウェアソフトウェア，一般性的なxrpd法。
- 結晶性と非晶質の両方の相の同定と試料の純度の決定
- 混合物中の結晶相と非晶質相の定量分析
- 微细构造解析（结晶粒径，微小ひずみ，乱れ...
- 热经理や机械加工に起因する工业装饰品のバルク残留力
- 結晶配向解析
- 指数付け,从头开始結晶構造決定,結晶構造精密化
二体分布関数解析
二体分布関数(PDF)解析は,散漫散乱(全散乱)と同様にブラッグ回折に基づいて不規則物質の構造情報を解析する手法です。ブラッグピークが材料の平均的な結晶構造(長距離秩序)に関する情報を提供するのに対し,拡散散乱はその材料の局所構造(短距離秩序)の評価を可能にします。
D8推进とTOPASソフトウェアは,アモルファス,低結晶,ナノ結晶,ナノ構造材料の分析において,分析速度,データ品質,結果の点において最高のパフォーマンスを発揮するPDF分析ソリューションです。
- 相の同定
- 构造の决定と精芳烃
- ナノナノ子の大厦さと形状
薄膜およびコーティング
薄膜とコーティングの分析は,XRPDと同じ原理に基づいていますが,さらにビームコンディショニングと角度制御を行います。代表的な例としては,相同定,結晶質,残留応力,テクスチャー分析,厚さの決定,組成対ひずみ分析などがありますが,これらに限定されるものではありません。薄膜やコーティングの分析は,アモルファスや多結晶コーティングからエピタキシャル薄膜に至るまで,nm ~μmの膜厚を持つ層状材料の特性に焦点を当てています。D8推进とDIFFRAC.SUITEソフトウェアは,以下のような薄膜の高品質な解析を可能にします。
- すれすれ入射x线路
- x线反射率测定
- 高分子能x线路
- 逆格子空間マッピング
アプリケーションギャラリー
结晶相定性：阶段ID
結晶相の定量評価
雰囲気制御XRD
結晶配向解析
残留応力解析
X線反射率測定(XRR)
小角X線散乱(粉煤灰)
仕様
D8推进仕様
機能 |
仕様 |
利益 |
三重奏/双光学系 |
ソフトウェア按钮切り替え: 电动可変発散スリット（Bragg-Brentano集中法光学系） 高強度平行ミラー(Kα1,2平行ビーム光学系) 通用电气(004)2結晶モノクロメーター(Kα1高分解能平行ビーム光学系) 特价：US10429326，US6665372，US7983389 |
电动モーター制御により3つの発散スリットモードと2つの平行ビーム光学系完全自动切り替え 非晶質,結晶質,エピタキシャル薄膜にかかわらず,粉末サンプル,バルクサンプル,繊維サンプル,フィルムサンプル,薄膜サンプルなどのあらゆるサンプルに最適 |
动态梁优化 |
- 電動発散スリット 电动エアスキャッタスクリーン 可変アクティブ検出器ウィンドウ 角度範囲2Ɵ:< 1 ~ 150º |
空気散乱および装置や試料由来の散乱がほぼない測定データ 検出下限値が大幅に強化され,微量結晶相やアモルファス相の定量が可能に 低角2θでの他に類を見ない性能を発揮し,粘土,医薬品,ゼオライト,多孔質骨格材などの正確な評価が可能 |
Lynxeye XE-T器件 |
最高エネルギー分解能:< 380 eV @ 8 keV(25°C,半値幅) 検出モード：0d，1d，2d 対応波長:Cr,有限公司铜、钼、银 特点：EP1647840，EP1510811，US20200033275 |
Bragg-Brentano集中法光学系,POLYCAP平行ビーム光学系においてKβフィルターや受光側モノクロメーターは不要 铜波長では鉄系サンプルからの蛍X光線を100%除去可能 従来の0次元検出器搭載システムと比較して,最大450倍高速測定を実現 Bragg-2D:発散ラインビームを用いた2 d回折パターン記録 検出器保証:不感素子なし(納品時) |
艾格尔峰2 R |
新ののカウンティング（HPC）技术ににもづくマルチ仪（0d / 1d / 2dモード） |
0d，1d，2d検出モードモードをををスナップショット，ステップスキャン，连続スキャン，アドバンスドスキャンアドバンスドスキャンシームレスな统合并 2θまたはγ.方向の记录领域を大大化人间工人学にもとづい仪器搭载方向机械 パノラミック光学系は工具ををこと広い回折情记录実现 自動検出機距離認識機構により,測定目的に応じて測定記録範囲と角度分解能のバランスを両立 |
捻管 |
调整作业なしなしのライン焦点焦点ポイント焦点のの迅速な机 |
電源ケーブルや冷却水配管,X線管球の取り外しが不要 davinci.design：焦点方向の完全自动検出と |
サンプルチェンジャー |
FLIPSTICK: 9サンプル 自动变换器:90サンプル |
反射および透過配置での測定 |
D8ゴニオメーター |
光学エンコーダーエンコーダー付ステッピングモーター制御制御制御ゴニオメーター |
ブルカー独自のアライメント保証により,他に類を見ない精度と確度を実現 メンテナンスフリードライブ机械 |
氛囲気制御アタッチメント |
制御温度範囲:-188 ~ 2300℃ 制御能力范囲：10-⁴MBAR〜10 BAR（7.5×10-⁴托〜7.5×10³托） 制御湿度範囲: 5% ~ 95% (相対湿度) |
大気雰囲気および雰囲気制御下における分析 diffrac.davinciによるステージモニターと制御 |
アクセサリー
XRD组件
布鲁克XRD解决方案由高性能组件配置，以满足分析要求。模块化设计是配置最佳仪器的关键。
所有类别的组件都是布鲁克关键能力的一部分，由布鲁克AXS开发和制造，或与第三方供应商密切合作。
Bruker XRD组件可用于升级已安装的x射线系统，以提高其性能。
ソフトウェア
PLAN.MEASURE.ANALYZE——DIFFRAC。套件ソフトウェアパッケージ
diffrac.suite™は，粉末x线路などの取得と评価単単にための幅広いソフトウェアモジュール提供ますのの。mます.microsoftの.NET技术をベースにたdiffrac.suiteは，安全，使いやすさ。，〖化性，最新のソフトウェア技术〗
カスタマイズ可能なインターフェースは，プラグプラグフレームワークを采，共通の＆フィール，操すべて·测定提供し，diffの·をモジュールは，diffrac.uiteのプラグインフレームワークワークにして使使使こともによりですももによりです。最低限度によりですことネットワーキングにより，ネットワーク内にによりd2 phaser，d8 endeavor，d8 advance，d8 Discoverのあらゆる回折计へ自由アクセスして制御することができます。
測定ソフトウェア:
巫师——測定条件検討と作成
指挥官- 装饰制御とマニュアル测定
工具 - メンテナンスインターフェース
粉末回折ソフトウェア:
偏爱- 各种销量分类
eva.——結晶相定性と汎用粉末XRD解析
TOPAS——プロファイル分析・定量分析・構造解析
材料解析ソフトウェア：
萨克斯- 萨克斯解析解析
XRR——包括的なXRR解析ソフトウェア
纹理——使いやすさを実現した極点図解析ソフトウェア
LEPTOS- 薄膜薄膜，残留残留力解析
ウェビナー
詳細
サポート
サービスとサポート
以下を提供ます。
- 高度なスキルを持つシューティングの専门家によるヘルプデスクのにより，ハードおよびソフトウェアの问题特价して解决
- サービス診断およびアプリケーションサポートのためのWebベースのリモート計測器サービス
- マージマージされたリアリティリアリティ - あなたの侧の仮想ビデオ）
- 计画メンテナンス（要件に応じて）
- お客様の現場修理・保守サービス
- スペアパーツの可用性は,通常,夜間または世界中の数営業日以内に利用可能
- 設置資格,運用資格/性能検証のためのコンプライアンスサービス
- サイトの計画と再配置
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