观察样品中元素变化的能力对于了解地质过程和矿床成因非常重要。双源系统包含一个显微x射线荧光扫描电镜能够在大范围内进行元素x射线测绘,在ppm范围内显示主要、次要和微量元素。
该图显示了来自一个外来铜矿床的样品的微xrf大面积x射线图(45 x 30 mm²),显示了铜(红色)、钙(绿色)、锰(蓝色)、硅(紫色)和氯(深绿色)的元素分布信息。此外,在该样品中还可以检测到电子束无法检测到的微量元素,如Co和SrEDS由于浓度太低和/或相关元素能量线太高。这些资料有助于更好地了解它们的分布、矿物学和结构关系以及矿床成因。