观察样品中元素变化的能力对于理解地质作用和矿床成因非常重要。双源系统,包括扫描电镜微X射线荧光分析在大面积上启用元素X射线映射,显示ppm范围内的主要、次要和微量元素。
该图显示了一个外来铜矿样品的微X射线荧光大面积X射线图(45 X 30 mm²),显示了铜(红色)、钙(绿色)、锰(蓝色)、硅(紫色)和氯(深绿色)的元素分布信息。此外,在该样品中,可以检测电子束无法检测到的微量元素,如Co和SrEDS由于浓度过低和/或相关元素能量线过高。这些信息有助于更好地了解其分布、矿物学和结构关系以及矿床成因。