孔径管理系统（AMS）
具有地形的样品定性分析
micro XRF的一个主要优点是样品制备的最低要求。然而，必须为测量定义一个分析平面。许多样品不是完全平面的，也不能改变（即重要的历史博物馆文物）。用于定性分析（如地图或线扫描）对于具有地形的样品，部分表面将位于焦平面之外。孔径管理系统（AMS）旨在增加景深。就像光学成像一样——但原因非常不同——透镜前的光圈会增加景深。因此，即使对于具有高形貌的样品，大多数结构仍保持在焦点上，即在焦平面内。
AMS工作原理示意图。通过仅允许最内层的毛细血管传输X射线，光束发散度减小，景深增加。
一种来自巴西的祖母绿晶体。晶体的直径大于1厘米。焦平面位于最顶端晶体的上三分之一。没有AMS，晶体的许多部分超出焦平面，模糊。
在不改变样本位置的情况下，使用AMS重新绘制地图。焦深增加，大部分样品现在看起来很锐利。
