동급 최강의 스타일러스 프로파일러
브루커의 Dektak® 스타일러스 프로파일러는 50년 이상의 독점 기술의 산물입니다. 이 프로파일러는 기존의2D 조도 표면 특성화, 단차 측정, 고급 3D 매핑 및 박막 응력 분석 등 반복 가능하고 신뢰할 수 있으며 정확한 측정을 제공합니다. Dektak 표면 프로파일러는 학술 연구에서 반도체 공정 제어 등 다양한 응용 분야에서 박막 두께, 응력, 표면 조도와 형태 측정을 위한 표준으로 널리 인정받고 있습니다.
50년 이상 프로파일링 혁신
덱탁은 박막 측정을 위한 최초의 프로파일러, 최초의 마이크로프로세서 기반 프로파일러, 3D 기능을 갖춘 최초의 프로파일러, 최초의 PC 기반 프로파일러 및 최초의 자동화된 300mm 프로파일러를 자랑합니다. 현재 덱탁XT는 단일 아치형 설계를 구현한 최초의 스타일러스 프로파일러이며, 쉽고 안정적인 스타일러스 교환을 통합한 최초이자, 최적의 측정 및 작동 효율성을 달성하기 위해 64비트 병렬 처리 아키텍처를 활용하는 최초의 스타일러스 프로파일러로서 “firsts"를 개척해 왔습니다.
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