XFlash 6 t-30

的XFlash^®6T-30是能量分辨率最高的S/TEM探测器。由于它的小直径(细线设计)，它特别适合于没有足够空间用于EDS检测器的情况，特别是用于旧的tem上的EDS改造。的多功能XFlash^®6T-30满足所有分析人员的需求，从优秀的几何条件(最佳起飞和最佳可能的立体角)到分析性能(轻元素或高计数率分析)。

总之，XFlash^®6T-30具有以下优点:

• 优异的能量分辨率(Mn Kα为126 eV, C Kα为51 eV, F Kα为60 eV)
• 其他可用的分辨率是129ev在Mn Kα
• 极高的脉冲负载能力
• 优良的轻元素和低能性能(元素范围Be - Am)
• 标准焊接波纹管
• 没有产生振动的冷却系统
• 上电后立即可用
• 不需维护的操作
• 低运营成本
• 小尺寸，包括纤细的科技手指
• 低体重
• 无窗版本可要求

XFlash的建议应用领域^®6 t-30是:

• 所有类型的EDS分析在TEM和STEM，包括畸变校正电子显微镜