Xflash 6T-30

用于常规和像差校正TEM的中型SDD
Xflash 6T-30检测器

Xflash.®6T-30是S / TEM的检测器,具有最佳的能量分辨率。由于其小直径(细长线设计),特别适用于EDS检测器的空间小空间的情况,特别是对于旧TEM的EDS改造。多功能Xflash.®6T-30符合所有分析师,从优异的几何条件(最佳取出和最佳的实线)到分析性能(光元件或高计数率分析)。

总之,Xflash®6T-30提供以下优点:

  • 优异的能量分辨率(MnKα,51eV在CKα和60eV的MnKα,可用的60eV)
  • 其他可用的分辨率是MnKα的129eV
  • 极高的脉冲负载能力
  • 优异的轻质元件和低能量性能(元素范围是 - AM)
  • 焊接波纹管作为标准
  • 没有振动产生冷却系统
  • 电源后立即可用
  • 免维护操作
  • 低运营成本
  • 小尺寸,包括纤维线技术手指
  • 低重量
  • Windowsless版本可根据要求提供

建议Xflash的申请领域®6T-30是:

  • 各种类型的ADS Anlyses上的TEM和茎,包括像差校正的电子显微镜