微XRF光谱仪

M4龙卷风

固体,层,颗粒和液体的元素分析

可配置满足您的需求

最终的速度和准确性

M4龙卷风μ-XRF Bruker元件分析固体,层,颗粒和液体

distaques.

<20
μm.
斑点大小
聚焦X射线束与多百张透镜
1
多发性硬化症
每像素最小停留时间
阶段速度映射高达100 mm / s
12.
层选择
可以使用可选的Xmethod包进行分析多层系统

高性能Micro-XRF,具有市场领先的速度和灵活性

M4龙卷风是使用小点微X射线荧光的样本表征选择的选择工具。其测量提供了有关组成和元素分布的信息,即使是表面。Bruker的Micro-XRF光谱仪针对点,线和2D面积扫描(元素映射)的高速分析进行了优化;是有机,无机或液体。

初级X射线励磁使用提供小点尺寸和高X射线强度的多百分子镜片。M4龙卷风可配置各种Bruker Xflash®硅漂移探测器(SDD),提供高吞吐量而不会损害能量分辨率。

M4龙卷风的出色配置选项之一是额外的X射线管,其提供不同的目标材料和用于扩展分析能力的准直器更换器。

进一步的最先进的配置选项:

  • 他冲洗以提高光元件性能,同时保持腔室中的大气压
  • 快速交换阶段和用于薄剖带和钻孔芯的地理样品架
  • Xmethod软件用于标准支持的标准和完全标准的量化以及层厚度计算
  • Amics软件用于自动化矿物分析

优点

M4龙卷风如何支持您的分析?

减少测量时间。优化的X射线激励路径,高吞吐量检测器,“在线”映射,像素时间下降到1毫秒。

测量样品高达7kg。大型真空室,可自由调节,恒定真空下至2毫巴,自动氦气或氮气冲洗以保护样品。

映射到达190 x 160mm²的区域。录制高达40 mio.像素在一个运行中,数据存储作为具有全光谱信息的超图,每个像素的光学图像。

量化光谱,线路和映射。可配置的基本参数方法,可选的Xmethod软件包,用于基于层或标准的量化,映射的层分析。

处理您的数据。功能强大的软件包,提取任意物体和谱(椭圆,矩形,多边形),线扫描的提取,仅在单个测量位置(MaxImumpixelsPectrum),化学相分析(自动酶)的元素的测定。

扩展您的功能。从广泛的配置中获利以符合您的分析需求。

发现广泛的Mico-XRF样品

aplicações.

植物分析

解决植物矿物质宿主的难题

Bruker的M4 Tornado Micro XRF光谱仪在研究替代剪接(AS)机制的作用方面起着重要作用,该机制在植物对环境压力中起作用的作用。研究科学家使用M4龙卷风来帮助了解植物使用的适应策略,以承受缺乏或过量的特定矿物质。反过来,这有助于确定培养禽类营养利用效率的方法。

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