M4龙卷风
配置灵活
测试快速准确
高亮
高性能微区光谱仪,具有市场领先的分析速度和功能多样性
M4龙卷风是使用小光斑微区X射线荧光进行样品表征的首选设备。其测量结果能够提供样品的相关成分和元素分布的信息,甚至样品表面下元素分布信息.Bruker微区X射线光谱仪经过优化,可对任何类型的样品的点、线和二维区域扫描(映射)进行高速分析;样品类型可为固态，液态，颗粒等。
靶材产生的X射线经过多导毛细管聚焦后,在保证荧光强度的同时可产生极小的光斑。M4龙卷风可选配多个Bruker XFlash 硅漂移探测器 （SDD），可在不影响能量分辨率的情况下实现荧光信号的高吞吐量处理。
M4龙卷风还可额外选配第二根X射线光管,它提供了不同的靶材以及准直器,可实现设备分析功能的极大拓展。
其他可选高级配置选项：
- 他吹扫能够极大提高轻元素检测灵敏度,使得设备可在样品仓常压下对轻元素检测
- 可快速更换的地质样品测试支架，适用于矿物薄片和岩芯测试
- XMethod软件,支持用户自主建立包含镀层在内的多样定量分析方法
- 用于矿物分析的氨的软件
优势
M4龙卷风如何支持您的分析?
测量时间短。优化的X射线光路,高通量探测器,“——飞”映射,单点测试时间可低至1毫秒。
测量样品高达7公斤。大型真空样品仓,可自由调节真空度,最低可至2 mbar,自动他或氮气吹扫,可检测含水样品中的轻元素。
单次面扫描面积高达190 x 160平方毫米的面积。单次扫描多达 4000万像素点 。数据存储为HyperMap,包含所有像素点光谱信息以及光学图像。
定量分析单点，线扫描，面扫描测试结果。配置的基本参数方法,可选的XMethod软件包,实现对镀层等样品的准确定量。
处理数据。强大的分析软件，可在面扫描结果中选择任意对象（椭圆，矩形，多边形）进行光谱提取，线扫描数据提取，最大像素光谱，相分析。
扩展功能。可结合用户实际需求提供定制化配置，以满足您的分析需求。
应用
解决植物中矿物质营养平衡的难题
力量的M4龙卷风微区光谱仪在研究植物中可变剪切(AS)机制的作用方面发挥着重要作用,这些机制似能够调控植物对环境胁迫所产生的反应。科学家使用M4龙卷风来探索植物承受特定矿物质营养素缺乏或过量情况的适应策略。这也有助于发现如何在植物培育过程中提升矿物质营养的利用率。
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发表文章
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