级控制

能量色散x射线荧光(XRF)是矿山和选矿设备中最可靠的品位控制方法。Bruker的XRF分析仪允许同时分析鉴定品级、次品级和废物所需的元素浓度。Bruker的解决方案专注于整个采矿价值链的价值最大化和风险降低，从矿场便携式XRF分析到高吞吐量级控制和杂质工作流程。解决方案包括:

• 大容量台式机S2彪马系列2能够从C到Am进行分析，可选择一个、12个和20个样品转换器。

• 的CTX，一种新的便携式单样品加固工作台XRF与电池备份分析从Mg到U

• 的S1泰坦手持式XRF与可选的安全联锁台式支架最灵活的分析从Mg到U

波长色散XRF (WDXRF)提供最准确和最低限度的检测，特别是在复杂的矿石。WDXRF使用x射线光学将荧光分散到每个元素的单个波长。得到的频谱具有低背景和消除大多数元素重叠。这一技术是关键的品位控制应用，歧视微量元素或元素与许多重叠是重要的。Bruker的WDXRF解决方案

• 的S8狮子提供最快的时间作为多通道WDXRF的结果。同时分析多达16种元素，用于高通量级控制和杂质应用，要求在低检测限的精度。

• 的S8老虎系列2是一种健壮且易于使用的连续WDXRF，能够在一次运行中提供主要元素和跟踪元素。S8 TIGER提供了采矿或库存管理的严格和多样化监督所需的分析灵活性。

• 的S6捷豹是一种紧凑型WDXRF，其体积小、速度快，足以部署到矿场实验室，但功能强大，足以满足最苛刻的等级识别要求。

复杂矿石通常需要矿物识别作为品位控制工作流程的一部分。例如，高岭石可以替代铁矿石中的针铁矿，并且无法目视识别。将品位块体分配给高品位、低品位或废石时，还需要量化矿物组合。快速X射线衍射（XRD）结合聚类分析是一种新兴的矿物品位控制和杂质分析工具。当矿物组合是品位控制中的一个关键鉴别因素，而散装元素或矿物含量不能说明全部情况时，自动化矿物学会介入，为矿物加工提供额外的关键信息。Bruker的品位控制矿物学解决方案包括：

• 氨的是Bruker公司用于扫描电子显微镜的自动矿物学解决方案。AMICS自动收集后向散射电子和EDS x射线点，绘制矿物图，计算锁定、释放和模态矿物学。

• 的D2移相器以紧凑型桌面软件包中品位控制分析所需的速度提供XRD分析。

• 的DIFFRAC。套件™软件提供了坡度控制和坡度分类的定量分析所需的所有工具。polynap模块提供聚类分析，而TOPAS软件允许进行轮廓拟合和定量Rietveld分析。