由于各种感兴趣的元素以及从专业到痕量的浓度范围,钢材和合金的量化可能存在问题。这个由两部分组成的网络研讨会将展示使用双光束系统的好处,也就是说,一个既有电子又有micro-XRF源.此外,该系统还配备了能量色散光谱仪(EDS)及波长色散光谱仪(改进算法).本系列网络研讨会的第一部分将重点讨论双光束源,以及它们如何与感兴趣的样品相互作用产生x射线,并使用EDS进行识别和量化。第二部分将把这些结果与使用在同一系统上收集的WDS的测量结果进行比较。本次网络研讨会使用的样品是一系列不同浓度的Cr和Ni钢,预计用于工业,以及定量的微量元素,如Co、Cu、Mn、Mo、Nb、S和Si。此外,高铁(> 95%铁)合金的结果也将被提出。结果证明了双源多检波器系统的性能和优越性。
本次网络研讨会将以15分钟的问答环节结束,届时我们的专家将回答您的问题。
Stephan Boehm
Bruker Nano Analytics的micro-XRF / SEM和WDS产品经理
安德鲁·曼兹博士
高级应用科学家地质学和采矿,Bruker Nano Analytics
Michael Abratis博士
Bruker Nano Analytics的高级应用科学家