Micro-XRF光谱仪

M4龙卷风amic

微XRF的自动矿物学系统

自动数据收集和矿物匹配

微型XRF的唯一自动化矿物学解决方案

M4龙卷风amics自动化矿物学系统用于µ-XRF

邮件

16x19
厘米
测量区域
非常适合钻头或板岩岩石 - 在M4龙卷风的大型低空样品室中不需要分析的抛光或涂层
<20
µm
斑点大小
大多数地质问题所需的分辨率,地图专业,次要和微量元素和矿物质
> 1340
数据库中的矿物质
AMIC已预加载了用户膨胀的矿物数据库,并使用未知数与此数据库的全频谱匹配

Micro-XRF数据的自动化和相位识别

M4 Tornado Amics是一种创新的新方法,使用X射线激发来收集能量光谱以进行矿物质匹配。该软件包与超快速的高分辨率元素分布分析相匹配M4龙卷风以及Amics软件的自动化和阶段分类技术。

  • M4 Tornado Amics有一个大型样品室,该室在低大气压力下仅需要平坦的表面,而没有特殊的涂层或抛光。非常适合平板芯,手工样品板和薄截面的钢坯,甚至是未打磨的谷物安装座。
  • 快速自动化重复测量,并在广泛的样品持有器和定制测量区域中自动化。
  • 分析整个样品以识别矿物学或阶段,表征纹理和关联,应用统计计算并报告结果作为地图,图表和图形。
  • 创新的频谱树使用户能够对未知阶段进行分类,包括复杂的实心解决方案,边界和混合阶段。

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Micro-XRF如何适应我的矿物学和纹理表征工作流程?

将M4龙卷风amics整合到任何工作流程中,以添加任何准备或未准备好样品的地球化学和矿物图 - 钻头芯,手动样品,方针,薄层和谷物安装。这种创新和健壮的仪器在纹理和元素框架内捕获矿物信息。

  • 出色的痕量元素检测极限和快速测量时间产生<20 µm的分辨率相图,从而赋予快速决策和对样品的下调,以通过AMICS SEM或其他需要较小准备样品的技术进行进一步分析。
  • M4龙卷风amics非常适合测量具有大矿物颗粒的样品,例如粗晶体火成岩或重型矿物沙,在粉碎和尺寸消除Orginial Textural环境之前,可以快速分析
  • 强大的M4龙卷风仪器可以将其前部部署到全球的现场位置;它易于使用,独立且没有消耗品。当配备M4龙卷风友好并与紧凑的SEM和适合现场样品制备工具相结合时,它可以为快速战术决策提供完整的现场岩性和质地分析解决方案。

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您的分析挑战是什么?

矿物探索

钻芯岩性型,矿物和纹理分析

M4 Tornado Amics通过捕获和保存核心被压碎和弄乱的矿物和纹理信息,成为核心表征工作流程中的关键工具。这种原始的矿物质和纹理信息以及从中得出的其他地球化学可用于表征矿石人体几何形状并在勘探环境中发展为矿石的向量。空间分辨的矿物数据允许对传统的散装地球化学和XRD分析进行上下文化,并且与元素映射结合使用,M4 Torando Amics为开发强大的探索模型提供了关键信息。
工业矿物质

重矿物砂分析

重矿物沙是锆,钛,钨和稀土元素的重要来源。M4 Tornado Amics是快速评估模态矿物学的独特解决方案,用于探索目标和生产。可以用最小样品制备分析样品,并用大小类和矿物质排序的矿物质。M4龙卷风易于使用,可以安装在生产设施附近,从而快速数据生产,以进行快速的战术决策。
岩石学和地球化学

空间分辨的矿物学和微量元素地球化学

M4 Tornado Amics可实现大多数地质样品的定量模态矿物质和带有Micro-XRF的质地表征。绘制大面积的能力可以快速允许偏见有限的完整样本分析,从而完全信心结果。使用元素数据和矿物图作为用于SEM-EDS分析的更多知情样本选择的工具。在大型样品中靶向低丰度矿物,以减少EMP和LA-ICP-MS进一步的样本表征和分析的时间和成本。

Спецификации

技术细节

<20 µm XRF斑点 用于聚焦束XRF分析的多维毛细血管X射线焦点 光谱树

通过BSE和能源光谱标准对光谱进行嵌入和分类

C到Am M4 Tornado Plus上的定量范围。覆盖PPM检测极限的大部分元素周期表。 全面的矿物数据库

具有超过1300个矿物相和软件的数据库来收集和管理自定义阶段

全光谱全列表(FSWL)匹配 使用整个能量色散光谱与整个矿物列表进行光谱匹配 数据收集自动化

来自M4龙卷风和M4龙卷风Plus的数据收集,包括快速释放样品持有人以及定制测量区域

Аксессуары

Sem-Eds的友善

M4 Tornado Amics是Bruker创新的自动化矿物学生态系统的一部分,该生态系统可提供来自Micro-XRF和SEM-EDS的矿物数据。SEM-EDS的Amics将高分辨率BSE与高通量EDS汇集在一起​​,用于自动化矿物学解决方案,可自动化扫描电子显微镜的数据收集和分析。Amics是对结合创新成像和分析的样品进行详细和定量分析的下一代表征工具。