繁体微芯片材料的元素识别

导电光陶瓷材料化物常于于于微。

为了在质量控制中实现微和纳米水平的高空间分辨率，材料必须以低加速电压进行分析，而这个前提使这些物相的识别变得困难。在这个例子中，W M 线系的谱峰可以被激发，而这些谱峰会与基板材料 Si K+线系发生严重重叠。

由此产前的主要（si）的eds峰值会变宽，并掩盖了第二物相（w）的现处。相对应，如果使用量化WDS进行分类，由于其卓越的批量分类，w和si的每个峰都被被完美识别。