白光干涉法

InSight WLI

Automated, Gage-Capable Metrology for R&D and Production
洞察力WLI

高亮

InSight WLI with 300mm Wafer Handler

全自动的Insight WLI系统具有晶圆处理程序集成的无与伦比的光学表面测量功能。Insight WLI从头开始设计,为最苛刻的研发,质量保证和过程质量控制需求,包括Bruker的专利尖端/倾斜头,专有的自我校准激光参考,整合模式认识,以及其他许多其他Bruker--独家干涉测量创新。没有其他计量系统可以为如此广泛的生产计量和成像应用提供非接触式准确性,吞吐量和操作员的便利性。

功能

特征

准确性和鲁棒性的基准

  • Unique metrology sensor design with patented dual-LED light source
  • Self-calibrating, metrology optimizing laser reference
  • 集成振动 - 隔离地板安装柜

Measurements & Analysis

Fastest, Easiest Nanometer-Scale Measurements

  • 全自动测量功能
  • Industry leading gage on nanometer-scaled features

最强大的测量和分析

  • Streamlined, customizable production interface
  • 灵活的配方和自动化测量优化
  • 广泛的过滤器库和可自定义的分析选项

要求要求的配置

要求高级包装的配置

  • Complete die flatness and CMP metrology solution
  • TSV and interconnect measurements
  • 全鞘层的热点和缺陷检测

Factory Automation Ready

  • 秒/宝石
  • S2/S8合规
  • FDC,DCOL可用

支持

支持

How Can We Help?

Bruker与我们的客户合作解决了现实世界中的应用程序问题。我们开发下一代技术,并帮助客户选择正确的系统和配件。在工具出售工具很久之后,这种合作伙伴关系继续通过培训和扩展服务。betway手机客户端下载

我们训练有素的支持工程师,应用程序科学家和主题专家团队全力致力于通过系统服务和升级以及应用程序支持和培训来最大化您的生产率。betway手机客户端下载

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