鉴定土壤中污染物和毒素
大面积映射（超图）使用SEM-XRF可以在具有地形的样品上执行。也就是说，需要最少的样品制备，可以直接分析样品而不会降低任何降低。这在对土壤的分析中尤其重要，在这种分析中，任何形式的样品制备（例如安装，抛光或碳涂层）都可能改变样品。Micro-XRF可以直接分析土壤样品，如图1所示。这包括主要元素，但还包括痕量元素或痕量矿物相，这些元素可能掺入污染物或毒素（见图2）。在此示例中，鉴定出包含Pb和污染物的谷物。
图1：土壤的大面积X射线图（120 mm x 30 mm）（分析参数：管电压RH在50 kV处，阳极电流600 µA，像素间距25 µm）。从左到右的顶行：四个土壤样品的总X射线强度图（类似于BSE图像，灰色）。从左到右的第二行：K（紫色）和CA（黄色）。从左到右的第三行：ti（橙色）和MN（蓝色）。从左到右的底行：Fe（红色）和F1（灰色）。
图2：对土壤样品的分析，证实了样品4中Pb（右）的存在。底部图像显示了样品的光谱，证实了Pb的鉴定以及样品中的样品。