土壤中污染物和毒素的鉴定

SEM-XRF可以对具有粗糙表面的样品执行大面积面分析(HyperMap)。也就是说几乎不需要样品制备，无需任何降解抛磨，可以直接分析样品。这在土壤分析中至关重要，因为任何形式的样品制备（如镶样，抛光或碳涂层）都可能会改变样品。微区光谱仪可以直接分析土壤样品,如图1所示。这包括主要元素，也包括可能含有污染物或毒素的微量元素或微量矿物相（见图2）。在此示例中,光谱仪识别了含有铅和作为的污染物颗粒。