土壤中污染物和毒素的鉴定
使用SEM-XRF可在具有地形的样品上执行。也就是说，需要最少的样品制备，并且可以直接分析样品而无需任何脱脂。这在土壤分析中尤其重要，因为任何形式的样品制备，如安装和抛光或碳涂层，都可能改变样品。micro XRF可以直接分析土壤样品，如图1所示。这包括主要元素，但也包括可能含有污染物或毒素的微量元素或微量矿物相（见图2）。在本例中，确定了含有Pb和As污染物的颗粒。
图1：土壤的大面积X射线图（120 mm X 30 mm）（分析参数：50 kV时的管电压相对湿度，阳极电流600µA，像素间距25µm）。顶行从左至右：四个土壤样本的总X射线强度图（类似于BSE图像，灰色）。从左到右的第二行：K（紫色）和Ca（黄色）。从左到右的第三行：Ti（橙色）和Mn（蓝色）。从左到右的底行：Fe（红色）和F1（灰色）。
图2：土壤样品分析，确认样品4中存在Pb（右）。底部图像显示了样品的光谱，确认了样品中的铅和砷。