玻璃工业

为了满足其以后使用的要求，将不同类型的材料混合或溶解在原玻璃中。该过程以及原材料分析可由以下人员监控：X射线荧光分析（XRF），取决于EDXRF测定的元素和浓度范围S2美洲狮或WDXRFS6捷豹.

为了对处于最终状态的玻璃或金属涂层进行无损分析，或对特定感兴趣元素的空间分布进行分析，微X射线荧光技术，如M4龙卷风这个M4龙卷风升级版或者用于扫描电镜的QUANTAX微X射线荧光分析是非常适合的分析方法。

如果需要更高的空间分辨率，扫描和透射电子显微镜（SEM和TEM）可提供极高的分辨率和使用Bruker的机会全税制进行能量色散光谱分析(EDS)用于无机材料分析。使用波长色散光谱仪全税字，低能量或轻元素范围内具有挑必威手机客户端战性的材料由于其出色的能量分辨率和轻元素灵敏度，可以更好地确定。基于扫描电镜全税EBSD在（电子背散射衍射）系统中，可以获得晶体取向图，以了解结晶学和相界，并研究材料中的变形。必威手机客户端

正是“玻璃态”的基本性质预示着传统的X射线衍射（XRD）提供合理的结构信息–玻璃没有晶体材料中存在的长程有序性。µ-XRD与D8发现可以帮助描述玻璃中发现的假夹杂物，因为它们通常由晶体材料形成。

由于各种原因，通常会对未加工的玻璃和金属进行涂层处理。涂层可能是防腐的，使表面硬化，可能反射热辐射或任何其他类型的光，或者只是使底层材料变得更高贵。
掠入射X射线衍射（GID）D8预付款有助于明确确定涂层的结晶成分。X射线反射仪（XRR）和微X射线荧光技术启用层厚度的非破坏性测定，即使是子表面层。