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TappingMode™的开发使研究人员能够成像过于脆弱的样品,无法承受接触模式的横向力,并且使用扫描速度比在非接触模式下获得的扫描速度要高得多。
TappingMode AFM是一种由布鲁克(Bruker)的技术,它通过用振荡的探针尖端轻轻敲击表面来映射地形。悬臂的振荡幅度随样品表面地形而变化,并且通过监视这些变化并关闭Z反馈回路以最小化它们来获得地形图像。
这种流行的AFM模式构成了许多高级模式的基础,例如电力显微镜(EFM)和磁力显微镜(MFM)。