tappingmode

TappingMode™的开发使研究人员能够成像过于脆弱的样品，无法承受接触模式的横向力，并且使用扫描速度比在非接触模式下获得的扫描速度要高得多。

TappingMode AFM是一种由布鲁克（Bruker）的技术，它通过用振荡的探针尖端轻轻敲击表面来映射地形。悬臂的振荡幅度随样品表面地形而变化，并且通过监视这些变化并关闭Z反馈回路以最小化它们来获得地形图像。

这种流行的AFM模式构成了许多高级模式的基础，例如电力显微镜（EFM）和磁力显微镜（MFM）。