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攻丝模式的发展™ 使研究人员能够对脆弱到无法承受接触模式横向力的样本进行成像,并使用比非接触模式更高的扫描速度。
TappingMode AFM是一项Bruker专利技术,它通过振动探针头轻敲表面来绘制地形图。悬臂梁的振幅随样品表面地形而变化,通过监测这些变化并关闭z反馈回路以最小化这些变化来获得地形图。
这种流行的AFM模式构成了许多高级模式的基础,例如电力显微镜(EFM)和磁力显微镜(MFM).