TappingMode

TappingMode™的开发使研究人员能够对过于脆弱、无法承受接触模式侧向力的样品进行成像，并使用比非接触模式更高的扫描速度。

TappingMode AFM是一项布鲁克专利技术，通过振动探针尖端轻敲表面绘制地形。悬臂梁的振动幅值随样品表面形貌的变化而变化，通过监测这些变化并关闭z反馈环路以使其最小得到形貌图像。

这种流行的AFM模式形成了许多高级模式的基础，如电力显微镜和磁力显微镜．