纳米力学测试仪

Hysitron TS 75摩擦镜

提供定量,刚性探针纳米压痕和纳米摩擦学的原子力显微镜
Hysitron TS 75摩擦镜

突出了

Hysitron TS 75摩擦镜

Bruker的Hysitron TS 75 TriboScope为原子力显微镜世界提供了定量的、刚性探针的纳米压痕和纳米摩擦学表征能力。Hysitron TriboScope与Bruker的Dimension Icon、Dimension Edge和MultiMode 8 AFMs接口,扩展了这些显微镜的表征能力。通过使用一个刚性的测试探头,TriboScope消除了悬臂测量的固有限制、可变性和复杂性,在纳米到微米的长度范围内提供定量和可重复的机械和摩擦学特性。

定量
rigid-probe表征
消除了基于悬臂梁的纳米压痕测试技术固有的不确定性和复杂性。
专有的
电容式传感器技术
提供对纳米压痕过程的卓越控制,并提供业界领先的力和位移噪音地板。
直觉的
机械接口
简化与流行的商用AFM的集成,包括Bruker的Dimension Icon、Dimension Edge和MultiMode 8系统。

特性

Rigid-Probe优势

大多数AFM使用柔顺悬臂进行机械或摩擦学测试,这在将悬臂的弯曲和旋转刚度与材料对施加应力的响应分离方面提出了重大挑战。TriboScope利用刚性测试探针组件,允许在测试过程中直接控制和测量施加的力和位移。

专有静电力驱动

TriboScope利用专有的静电力驱动和电容式位移传感传感器技术,提供业界领先的噪音地板和低热漂移,以表征纳米级底部的特性。

力与位移反馈控制

摩擦镜在闭环力控制或位移控制下工作。利用78 kHz反馈回路速率,TriboScope可响应快速材料变形瞬态事件,并忠实再现操作员定义的测试功能。必威官网体育下载

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