Argus FSE/BSE成像系统
这Eflash EBSD探测器可选可用于Argus™前叉电子（FSE）和反向散射电子（BSE）成像系统。这进一步增加了检测器的多功能性，并为有意义有效的微观结构表征提供了宝贵的附加信息。
两个BSE检测器的集合安装在EBSD检测器的屏幕上方。三个FSE探测器在屏幕下方。检测器的这种位置不会影响EFLASH的性能或用户友好性，屏幕仍然可以更换用户。FSE/BSE检测器运行所需的所有电子设备已经包含在Eflash+检测器包装中。除了方便之外，这还确保了信号损失被最小化，因为前置放大器靠近探测器。
BSE检测器可改善图像质量
由于在EBSD模式下的样品倾斜度高，因此标准的SEM SE和BSE检测系统倾向于产生低质量的嘈杂图像。Argus™BSE检测器的定位最佳，可从倾斜角度获得样品中获取BSE信号。这包括屏幕上方的位置以及对样品的倾向，这两者都确保了最佳信号强度。此外，EDS检测器可以适合BSE检测器之间，以提供同时进行EDS和EBSD采集的最佳条件。产生的信号可以单独使用，也可以与FSE检测器中混合。
与Argus™FSE检测器的色彩方向对比图像
位于磷光器筛网下方的三个Argus™FSE探测器中的每个探测器都捕获了高度各向异性衍射的前置信号（kikuchi模式）的不同部分。这使Argus™系统可以检测到丝毫信号变化，这是由于在多晶样品上进行扫描时的方向变化。使用颜色编码（RGB）显示信号，即使是非常小的方向变化也可以看到人眼。此功能是Argus™系统独有的。（有关该技术的更多详细信息，请参阅A. P. Day等，《显微镜杂志》，第195卷，第3页，第3页，1999年9月，第186-196页。
信号优化是快速而完全自动的，这要归功于其完整的集成到ESPRIT软件。另外，FSE信号可以与BSE信号结合使用。
Argus™图像既具有科学和实际应用。
