Espectrómetros Micro-XRF

M4 Tornado Plus

elementossúperligeros en micro-xrf

Mapeo de Xrf Hasta El Carbono

Purga de helio para muestras sensibles

Bruker M4龙卷风加µ-XRF光谱仪扫描超光元件

LoMásDestacado

Carbono
Elemento detectable más bajo
Todos Los Elementos A Partir del Carbono Se Pueden Medir
>6
Mm
Profundidad de enfoque con AMS
El sistema degestióndeapertura(ams)允许una imagennítidaen Muestrastopográficas
0.5-4.5
Mm
Tamaños de colimador seleccionables
cambiador de colimador de cuatro sosiciones en e el tubo aDicional

El revolucionario espectrometro micro-XRF para elemento súper ligeros

El miembro más reciente de la familia de espectrómetros de Bruker le permitirá obtener más información sobre su muestra de lo que XRF nunca antes había conseguido.

CON SUS DECTORES DE EMENTEROSSúperLigeros,El M4 Tornado加Es PrimerEscánerMicro-Xrf Capaz de Medir Calquier Elemento a Partir del Carbono。Además,El Rendimiento en todos los elementos ligeros aumenta axcectablemente。

En este instrumento, Bruker introdujo el sistema patentado de gestión de apertura (AMS),que mejora la profundidad de enfoque de la linente policapilar para un mapeo de elementosmásnítidoen usestras desiguales。La Segunda Fuente de Rayos X,Opcional,AmplíaAúnMásLasCapacidadesAnalíticascon Sus CuatroTamañosdpunto de punto de 0,5 A 4,5 mm。

Más ligero, más rápido, más profundo.

La cámara de vacío de la familia M4 TORNADO ofrece una purga de helio opcional. Esto aumenta el rendimiento en elemento ligeros mientras mantiene la presión atmosférica en la cámara. Los elementos ligeros en muestras biológicas o húmedas se pueden analizar sin necesidad de congelar o secar las muestras.

M4 Tornado Plus:EspectrómetroMicro-Xrf Para ElementosSúperLigersos

受益人

Benefíciesedel Plus EnRendimientoAnitítico

  • AnálisisdeSólidos,partículasolíquidoscon todas las ventajas que la bien parta fima famia familia familia m4龙卷风tiene tiene tiene que ofrecer
  • Amplia Experiencia en Micro-Xrf con La Capacidad de Grabar Espectros,Escaneos delíneay Mapas en la Gama en la Gama enla la la la la la elementos a partir del del carbono
  • combinacióndeimagenoptica eInformaciónEspectral porporpíxelen un un cubo deatos datos de hypermap
  • Tiempo de medición reducido mediante la combinación del haz de rayos X enfocado con dos detectores SDD de alto rendimiento para elementos súper ligeros
  • 结果decuantificaciónrápidoscon una rutina rutina可配置的deparámetroscutectamentales o Utilizando el Software xmethod de bruker para la lacuantificacióndel grosor del grosor de capa
  • Mapeos de Muestras desiguales Alta Profundidad de Enfoque Utilizando el Sistema degestióndeapertura(AMS
  • Rendimiento inmejorable con actualizaciones y paquetes de servicio durante toda la vida útil del instrumento

noticias y evesos

Más información

Recursos & Publicaciones