カーボンからの光谱仪マッピング
高真空およびインテリジェント他置換機構搭載で固体のほか含水・含油試料も分析可能
BRUKERのMICRO-XRFファミリーファミリー最新モデルををする,xrfがこれまでにたももについて详しく知る知ることができますことができことができことができことができことができことができ
超軽元素検出器を備えたM4龙卷风+は6番(カーボン)から95番(アメリシウム)まで任意の元素を測定できる最初のマイクロ光谱仪スキャナです。さらに,すべての軽元素の感度が従来機に比べ大幅に向上します。
この装置では,力量は,不均一なサンプルの鮮明な元素マッピングのためのポリキャピラリーレンズの焦点深さを高める特許取得済みアパーチャーマネジメントシステム(AMS)を導入しました。オプションの第2のX線源は,4つの選択可能なスポットサイズを0.5毫米から4.5毫米に拡張します。
軽く,より速く,より深く。
M4龙卷风ファミリーのチャンバーは,他置換のためのオプションを提供しています。これはチャンバーの大気圧を維持している間軽元素の感度を高めます。生物学的または湿式試料中の軽い元素は,試料を凍結または乾燥させることなく分析することができます。