Micro-XRF光谱仪

M4龙卷风+

微xrf中的超轻元素

X射线荧光成像到碳

对敏感样品进行he清洗

BRUKER M4 TORNADO PLUS μ -XRF光谱仪扫描超轻元素

做marquants

最低可探测元素
从碳开始的所有元素都可以测量
>6
AMS的聚焦深度
孔径管理系统(AMS)允许在地形样本上获得清晰的图像
0.5 - -4.5
可选择的准直器尺寸
附加管上的四位准直器转换器

革命性的超轻元素微型xrf扫描仪

有了布鲁克的微型XRF家族的最新型号,你可以发现更多关于你的样品比XRF以前展示给你的。

凭借超轻元素探测器,M4 TORNADO PLUS是第一款能够测量碳元素以上任何元素的微型XRF扫描仪。此外,所有轻元素的性能都得到了显著提高。

在这台仪器上,Bruker引入了专利孔径管理系统(AMS),提高了多毛细管透镜的聚焦深度,以更清晰的元素映射不均匀的样品。可选的第二x射线源进一步扩展了分析能力,其四个可选择的光斑大小从0.5毫米到4.5毫米。

更轻、更快、更深。

M4龙卷风家族的chamber of The M4 TORNADO系列提供了一个He-flush选项。这增加了轻元素的性能,同时保持舱内的大气压。生物或湿标本中的轻元素可以不需要冷冻或干燥的样品进行分析。

M4 TORNADO PLUS:超轻元素微型XRF光谱仪

优点之一

受益于PLUS分析性能

  • 测量固体,颗粒或液体的所有优势,充分证明M4龙卷风家族提供
  • 通过记录光谱、线扫描和从碳元素开始的完整元素范围图,扩展您的micro XRF体验
  • 在HyperMap数据立方体中记录并保存每个像素的光学图像和全光谱信息的组合
  • 通过将聚焦的x射线束与两个高通量超轻元件SD检测器相结合,减少测量时间
  • 通过可配置的基本参数例程获得快速量化结果,或使用Bruker的XMethod软件进行标准支持、完全基于标准和层厚度量化
  • 使用光圈管理系统在高焦距处绘制不均匀样本(AMS
  • 在仪器的整个生命周期内,通过升级和服务包来提高性能betway手机客户端下载

加上d'S信息

资源和出版物