QC3
高分辨率X射线衍射系统
长期建立的QC QC系统
LoMásDestacado
QC3
QC3是针对表层的长期建立良好的QC系统。它是一种高分辨率X射线衍射工具，非常适合质量控制。它用于测量几乎所有材料的外延层中的组成和厚度。tHE系统使用标准密封管光学元件，再加上各种光束调节晶体，可以优化，可为每种应用提供最高的分辨率和强度组合。
完整的300mm旅行
allowing for measurements of large wafers or several small wafers simultaneously
características
Automated Operation
QC3提供了真正的自动化操作，具有直接的水平样品安装以及完全自动化的对齐，测量和数据分析。数据分析可以自动执行，也可以使用我们流行的RADS软件离线进行。样品阶段具有完整的300毫米行程，可以同时测量大晶片或几个较小的晶圆。它是质压生长中QC测量的首选工具。
索波特
支持
How Can We Help?
Bruker与我们的客户合作解决了现实世界中的应用程序问题。我们开发下一代技术，并帮助客户选择正确的系统和配件。在工具出售工具很久之后，这种合作伙伴关系继续通过培训和扩展服务。betway手机客户端下载
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