QC3
高分辨率X射线衍射系统
长期建立良好的QC系统针对结论者
命运
QC3
QC3是针对表层的长期建立良好的QC系统。它是一种高分辨率X射线衍射工具，非常适合质量控制。它用于测量几乎所有材料的外延层中的组成和厚度。the system uses standard sealed tube optics, combined with a variety of beam conditioning crystals that can be optimized to give the highest combination of resolution and intensity for each application.
Full 300mm of travel
允许同时测量大晶片或几个小晶片
características
自动操作
QC3提供了真正的自动化操作，具有直接向前的水平样品安装以及完全自动化的对齐，测量和数据分析。数据分析可以自动执行，也可以使用我们流行的RADS软件离线。样品阶段具有完整的300毫米行程，可以同时测量大晶片或几个较小的晶圆。它是质压生长中QC测量的首选工具。
apoio
支持
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