复合半导体的X射线计量学

QC3

高分辨率X射线衍射系统

长期建立良好的QC系统针对结论者

VC QC3

ハイライト

QC3

QC3是针对表层的长期建立良好的QC系统。它是一种高分辨率X射线衍射工具,非常适合质量控制。它用于测量几乎所有材料的外延层中的组成和厚度。the system uses standard sealed tube optics, combined with a variety of beam conditioning crystals that can be optimized to give the highest combination of resolution and intensity for each application.

Full 300mm of travel
allowing for measurements of large wafers or several small wafers simultaneously

特長

特征

Automated Operation

QC3提供了真正的自动化操作,具有直接向前的水平样品安装以及完全自动化的对齐,测量和数据分析。数据分析可以自动执行,也可以使用我们流行的RADS软件离线。样品阶段具有完整的300毫米行程,可以同时测量大晶片或几个较小的晶片。它是质压生长中QC测量的首选工具。

サポート

支持

How Can We Help?

Bruker与我们的客户合作解决了现实世界中的应用程序问题。我们开发下一代技术,并帮助客户选择正确的系统和配件。在工具出售工具很久之后,这种合作伙伴关系继续通过培训和扩展服务。betway手机客户端下载

Our highly trained team of support engineers, application scientists and subject-matter experts are wholly dedicated to maximizing your productivity with system service and upgrades, as well as application support and training.

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