Solutions de semi-conducteur

Bruker Semiconductor développe, fabrique, commercialise et supporte des solutions de métrologie pour films minces qui sont basées sur une nouvelle technologie rapide des rayons sans contact et non destructive. Avec l’acquisition par Bruker de Jordan Valley Semiconductors, un nom synonyme de support et de service client international incomparable, 75 % des 25 plus grands fabricants de semi-conducteurs au monde s'appuient sur les outils de métrologie de Bruker pour des applications « front-end » et « back-end », y compris pour le développement de leurs films minces de la prochaine génération. L’engagement de Bruker pour être à la tête de l’innovation et de la technologie conduit à de nouvelles avancées continues en métrologie et a été récompensé par de nombreux prix et reconnaissances du marché.

Dans des applications allant de la caractérisation des matériaux de films minces C-S à la détection des défauts et l’analyse des substrats de plaquettes, les systèmes de Bruker permettent d'analyser les simulations et de les adapter. Les types de mesure HRXRD, XRR, WA-XRD, et XRDI sont complètement supportés, offrant des capacités inégalées aux chercheurs, ingénieurs de production et développeurs de processus. Que vous soyez un fabricant de semi-conducteurs et de C-S, une université ou un centre de R&D ou encore un laboratoire de recherche sur les matériaux de l’industrie, Bruker a une solution spécifiquement conçue pour les besoins de votre métrologie.