化合物半导体的x射线计量
Bruker提供x射线计量工具，用于外延层薄膜的QC监控和广泛的半导体薄膜和晶圆的详细研发分析。我们提供专门为生产环境的挑战性需求设计的系统，以及多应用研究工具，以支持当前和未来的计量需求。
支持
我们如何提供帮助?
布鲁克与我们的客户合作解决实际应用问题。我们开发下一代技术，帮助客户选择正确的系统和配件。这种合作关系在工具出售后很长一段时间内通过培训和延伸服务持续下去。betway手机客户端下载
我们训练有素的支持工程师，应用科学家和主题专家团队完全致力于最大化您的生产力与系统服务和升级，以及应用支持和培训。betway手机客户端下载