化合物半导体的x射线计量
Bruker提供x射线计量工具，用于外延层薄膜的QC监控，以及广泛的半导体薄膜和晶圆的详细研发分析。我们提供专门为具有挑战性的生产环境需求而设计的系统，以及支持当前和未来计量需求的多应用研究工具。
支持
我们如何提供帮助?
Bruker与我们的客户合作，解决现实世界的应用问题。我们开发下一代技术，帮助客户选择正确的系统和配件。这种合作关系通过培训和扩展服务持续下去，直到工具出售。betway手机客户端下载
我们训练有素的支持工程师、应用科学家和主题专家团队完全致力于通过系统服务和升级，以及应用支持和培训来最大化您的生产力。betway手机客户端下载