Bruker Nano Analytics礼物：艺术与保护网络研讨会系列部分VII

XRF数据处理艺术与保护 - ESPRIT揭示的高级功能

该网络研讨会于2021年9月23日举行

调查艺术物体的元素组成

X射线荧光（XRF）测量被广泛被认为是诊断在保护，恢复，认证或在艺术对象周围解决历史问题时诊断的关键步骤。

硬件功能和仪器的性能只是数据采集的第一步。为仪器设计的软件包授权用户从获取的数据中提取附加信息。我们想将此数据处理方法带入中心阶段。

最近发布的ESPRIT揭示软件是一种易于使用的工具，可以为元素组成的调查提供广泛的功能 - 不仅提高了定性信息，而且还提供了对定量数据的强大计算。

在本网络研讨会中，我们仍然从我们最近引入ESPRIT揭示的核心特征，将重点转移到支持高级元素识别和量化的最易变和复杂的功能。

联系专家记录和幻灯片

圣文森特面板由NunoGonçalves（约占1450 A.C.）绘制

alyattes金币（大约610-561 b.c.）

HenningSchröder博士

产品经理Micro-XRF，Bruker Nano Analytics

Roald Tagle博士

高级应用科学家Micro-XRF，Bruker Nano Analytics

米歇尔吉龙

市场部门经理艺术与保护，Bruker Nano Analytics

*注册表格针对浏览器Google Chrome进行了优化。两个会话的内容都是相同的。

微XRF.