Micro-XRF光谱仪

M6射击

高清晰度的大面积微型XRF扫描仪

Mobile Elemental Analysis

Ultra-Fast Mapping

Bruker M6 Jetstream µ-XRF光谱仪,大面积宏XRF扫描仪高清晰度

强调

2x60
mm²
SDD尺寸
双硅漂移检测器选项可用于最快的收购
80x60
cm²
可扫描的表面
在一项运行中绘制较大的样本
100-500
µm
可调节的点尺寸
可以以五个步骤调整点大小以匹配样品的结构

大面积Micro-XRF的最新技术

(也称为macro-XRF Micro-XRF在大样本or MA-XRF) has become a decisive method for the analysis of paintings, geological samples, archeological artifacts and industrial components. The M6 JETSTREAM drives these analyses to the highest speed and accuracy. With its mobile wheelbase and adjustable frame, the M6 JETSTREAM can be used on-site instead of transporting the sample to the lab.

  • Measurement of upright samples or horizontal surfaces
  • 可扫描区域高达800 x 600mm²
  • 最高映射速度的“飞行”分析
  • 可调节的点尺寸to match the structure of the sample
  • Xflash®SDD技术,最多2 x 60mm²检测器区域
  • 可选的光圈管理系统(AMS)为不平坦的表面重点关注

好处

您可以从M6喷气流中得到什么?

Trodondid恐龙Jianianhualong Tengi的微XRF研究揭示了新的生物学和taphonomical信号,Jinhua li et。Al,原子光谱2021 42(1)
  • 获取有关几乎所有表面的元素分布的空间解析信息
  • 在一跑中记录大面积的数据
  • 将高分辨率的光学图像与一个超图数据集中的每个像素的全光谱结合在一起
  • 处理数据并从地图中提取物体光谱,线扫描和化学阶段
  • 使用无标准基本参数(FP)方法量化光谱
  • 通过避免物流并确保有价值对象的安全来减少成本和时间
发现广泛的MICO-XRF样品

规格

Technical details

Up to 100 mm/s stage speed 可以将映射“飞行”进行,而停留时间降低到每个像素的1 ms


30mm²或60mm²SDD,≤145eV M6 Jetstream可以配备不同的BrukerXflash®探测器,所有探测器均指定为≤145eV。

在垂直测量模式下±10°倾斜 除了水平和垂直测量之间的90°倾斜外,钻机还可以以精细的步骤倾斜到倾斜的表面